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嵌入式學(xué)校新聞

嵌入式系統(tǒng)驗(yàn)證的自動(dòng)化C測(cè)試用例

發(fā)布時(shí)間:2023-06-12 10:36:54 已幫助: 來(lái)源:廣州粵嵌教育

嵌入式系統(tǒng)驗(yàn)證的自動(dòng)化C測(cè)試用例

  SoC驗(yàn)證工程師認(rèn)識(shí)到了受限隨機(jī)測(cè)試平臺(tái)的局限性,促使他們手寫C測(cè)試以在處理器上運(yùn)行模擬和硬件仿真,即使他們?cè)诔浞诌\(yùn)用SoC設(shè)計(jì)方面受到限制。這些驗(yàn)證平臺(tái)的性能不足以運(yùn)行完整的操作系統(tǒng)(OS),因此這些測(cè)試執(zhí)行“裸機(jī)”,這大大增加了合成的開銷。

適用學(xué)員自動(dòng)生成C測(cè)試
  當(dāng)然,自動(dòng)生成的C測(cè)試會(huì)更有效地利用工程資源。它們也增加了覆蓋面。與手寫測(cè)試相比,生成的C測(cè)試用例可以測(cè)試更多的SoC功能,并且可以找出難以想象的復(fù)雜的極限情況。多線程、多處理器測(cè)試用例可以測(cè)試設(shè)計(jì)中的所有并行路徑,以驗(yàn)證并發(fā)性。它們可以在內(nèi)存段之間移動(dòng)數(shù)據(jù)以強(qiáng)調(diào)一致性算法,并在數(shù)據(jù)應(yīng)該發(fā)送到芯片的輸入或從其輸出讀取時(shí)與I/O事務(wù)協(xié)調(diào)。這樣做的總體效果是增加系統(tǒng)功能覆蓋率,通常高于90%,而數(shù)字通常要低得多。
  測(cè)試生成軟件,被稱為測(cè)試套件合成,使用一個(gè)易于理解的、基于圖形的場(chǎng)景模型來(lái)捕獲預(yù)期的設(shè)計(jì)行為。這些模型可以使用Accellera可移植刺激標(biāo)準(zhǔn)使用本地C++編寫或可視化描述。場(chǎng)景模型由設(shè)計(jì)或驗(yàn)證工程師創(chuàng)建,作為SoC開發(fā)的自然部分,因?yàn)樗鼈冾愃朴趥鹘y(tǒng)的芯片數(shù)據(jù)流圖,可以在白板上繪制以解釋部分設(shè)計(jì)規(guī)范。
課程目標(biāo)優(yōu)勢(shì)測(cè)試套件綜合
  測(cè)試套件合成的一個(gè)顯著優(yōu)勢(shì)是能夠在意圖模型上預(yù)先定義覆蓋目標(biāo)。一旦指定了意圖,該工具就可以對(duì)其進(jìn)行分析,以了解可能產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)量以及將要實(shí)現(xiàn)的功能意圖的覆蓋范圍。
  對(duì)于SoC來(lái)說(shuō),這可能需要數(shù)千次測(cè)試。然后,可以通過(guò)約束要測(cè)試的意圖并將工具集中在關(guān)鍵領(lǐng)域來(lái)設(shè)置覆蓋目標(biāo)。這種能力避免了傳統(tǒng)方法中出現(xiàn)的痛苦的迭代循環(huán),傳統(tǒng)方法是設(shè)置測(cè)試,運(yùn)行驗(yàn)證工具,理解實(shí)現(xiàn)的覆蓋范圍,然后一次又一次地重置測(cè)試。
  在一個(gè)由著名半導(dǎo)體公司開發(fā)的大型SoC的典型項(xiàng)目中,驗(yàn)證工程師將測(cè)試組合時(shí)間減少到以前需要手寫測(cè)試的20%。自動(dòng)化技術(shù)產(chǎn)生了更嚴(yán)格的測(cè)試用例,覆蓋率從84%提高到97%。此外,這些型號(hào)便于攜帶。
結(jié)論
  就像約束隨機(jī)測(cè)試平臺(tái)消除了塊驗(yàn)證的人工一樣,基于嵌入式處理器的SOC的綜合測(cè)試內(nèi)容已被證明可以減少系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證。此外,在嵌入式開發(fā)中,該解決方案目前正在塊級(jí)應(yīng)用,并用于芯片后驗(yàn)證。在這個(gè)例子中,自動(dòng)化C測(cè)試用例應(yīng)用了“盡可能自動(dòng)化”的格言,顯著地提高了覆蓋率,同時(shí)縮短了驗(yàn)證計(jì)劃。


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